Разработан первый в мире комптоновский микроскоп для изучения живых клеток- Новости ИТ - Сервис
 
Главная страница


комплексные ИТ-решения

ВАШИ ИДЕИ
СТАНУТ РЕАЛЬНОСТЬЮ!

  
   


Самый полный
спектр ИТ-услуг
  Решения в области
Информационных технологий
 
 
 

 

 Главная  /  Новости  /  новости IT-рынка  /  Разработан первый в мире комптоновский микроскоп для изучения живых клеток

Новости

Разработан первый в мире комптоновский микроскоп для изучения живых клеток
30.12.2020, 09:03:00 
 
p>Томский государственный университет (ТГУ) сообщает о разработке первого в мире комптоновского микроскопа, позволяющего проводить исследования на субклеточном уровне. Прибор даёт возможность изучать живые клетки без необходимости их препарирования.

Изображения ТГУ

Изображения ТГУ

Речь идёт об устройстве на основе рассеянного излучения. В настоящее время существуют средства, позволяющие выполнять исследования клеток при помощи электронной микроскопии. Однако в таких приборах происходит разрушение объекта изучения вследствие его бомбардировки электронным пучком. Новая система позволяет решить данную проблему.

«В отличие от просвечивающего рентгеновского микроскопа, в комптоновском формирование изображения происходит не в проходящем, а в рассеянном рентгеновском излучении. Так, лишь небольшая часть энергии рентгеновского излучения поглощается в объекте исследования, что приводит к уменьшению скорости деградации исследуемых объектов во время эксперимента», — говорят учёные.

В создании системы приняли участие радиофизики ТГУ и сотрудники немецкого электрон-синхротронного центра DESY. Разработка прибора началась в 2018 году, а с 2019-го осуществлялось его тестирование. Кроме того, специалисты занимались отладкой системы.

Российские учёные создали для прибора специализированный пиксельный детектор на основе матричных арсенид-галлиевых сенсоров большой площади. «Радиофизики ТГУ разработали технологию создания "рентгенопрозрачного" металлического контакта — теперь он пропускает не менее 98 % рентгеновского излучения в диапазоне от 10 кэВ и выше. Это повышает чувствительность микроскопа за счёт регистрации более широкого спектра рассеянного излучения», — отмечается в сообщении. 

Источник:


Источник: 3DNews

 
 
Новости:    Предыдущая Следующая   
 Архив новостей

Разделы новостей:

Подписаться на новости:

 

Поиск в новостях: